而如果C的容值越小，对电路的影响也就越小。但限于目前的测试系统，C3和串联后的电容值是几个pF的级别，而C1通常是20~30pF，所以仪器对负载电容量的影响在10%以上， 终会导致测量结果产生几个ppm（单位，百万分之一）的频率偏差，通常电路设计对晶体频偏的要求是30ppm左右，所以这个影响还是不能忽视的。但如果使用频谱分析仪，配合近场探头测试，因为仅在空间上有电磁场的耦合，所以仪器的影响可以忽略。低功率的设备更适合使用低功率的电源。，电流一旦超过20mA就会损坏LED阵列样品。此时需要电源能够通过CV/CC跳变或OCP来限制电流，从而保护设备。CV/CC跳变可将电流保持在限定范围内，防止出现过流情况。消除了过流情况，电源就会回到正常的工作状态。图1是把电流限制在20mA以下的一个简单示例。图1：表征CC极限值小于20mA的小型LED阵列的电压和电流OCP是一种闭锁功能。一旦电流超过20mA，输出就会设为0伏并保持在零位。当电流流经负载时，与所加的电压不呈线性关系，就形成非正弦电流，即电路中有谐波产生。谐波频率是基波频率的整倍数，根据法国数学家傅立叶(M.Fourier)分析原理证明，任何重复的波形都可以为含有基波频率和一系列为基波倍数的谐波的正弦波分量。谐波是正弦波，每个谐波都具有不同的频率，幅度与相角。谐波可以区分为偶次与奇次性，第7次编号的为奇次谐波，而8等为偶次谐波，如基波为50Hz时，2次谐波为l00Hz，3次谐波则是150Hz。

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显然，更高的集成度在不影响性能的同时，可以降低器件尺寸、功耗以及雷达芯片的成本。，NXP（恩智浦）便率先将MCU集成进入了其RFCMOS收发器中。TI更进了一步，将DSP也集成到了同一颗芯片中。Malquin表示，DSP的集成非常关键，它通过改善功耗使器件尺寸降低了近6%。此外，DSP是目标探测和分类信号链的核心。确实，Wasson举例称TI毫米波传感器通过内置的DSP，实现了物体 和分类，以及人数统计。当光源发射的某一特征波长的光通过原子蒸气时，即入射辐射的频率等于原子中的电子由基态跃迁到较高能态(一般情况下都是激发态)所需要的能量频率时，原子中的外层电子将选择性地吸收其同种元素所发射的特征谱线，使入射光减弱。特征谱线因吸收而减弱的程度称吸光度A，与被测元素的含量成正比。原子吸收对纯水中的离子含量要求比较苛刻，水质要达到超纯水级别即电阻率达到18兆欧以上。另外对吸光度以及TOC和微生物都有要求。

MPT1000电机测试对于堵转电流测试，有一套完整的方案。堵转测试分为常规堵转测试和国标堵转测试。常规堵转测试，是经市场检验的易于使用和愿意接受的方案，过程简单，成本较低。当设备准备就绪后，给被测电机以额定电压，使其运行在空载状态下，运行稳定后给电机加载并逐渐增加负载，直至被测电机转速降低并堵转；或者采用MPT电机测试系统为客户的堵转件直接将电机堵转，再给电机施加额定电压。在电机停转的短时间内，利用高速、高精度数据采集系统采集被测电机的扭矩、电压、电流等数据并计算得出关于电机的测量参数和计算参数，并通过功率分析仪和工控机显示在屏幕上并储存下来，所存储的数据均可方便导出和打印，大大方便电机堵转数据的分析。