于是，为了进一步减小解决方案的尺寸，有许多多输出IC可供选择。这些IC通常包括集成的MOS场效应晶体管(MOSFET)，同时至少要求配置有外部组件。而且，单就这些IC而言，其成本或许更为昂贵。通过减少生产过程中必须到位的外部组件数量所获得的收益，往往会抵消前期付出的高昂成本。采用何种拓扑结构呢?在如所示的实际应用中，由于空间的限制，所以LDO将成为我们的。然而，由于功耗和效率的限制，实际情况并非总是如此。其典型的信噪比为55dB，而8位示波器一般只有35～40dB。是将一个多谐波信号分别输入到8位和12位示波器，转化到频域观察的图形。两者频域的垂直刻度和基准都一样。可以看出，12位示波器的频域噪底比8位示波器低大约lOdB。我们来看一个实际的测试案例：需要对某关电源产品中的功率MOS管进行分析。其中有一个测试项是MOS管导通损耗。分别用电压和电流探头测量漏源电压Vds与漏极电流Ids，在示波器上将两个波形相乘得到功率波形，导通期间的功率就是导通损耗。它融合了数字扩频、数字信号和前向纠错编码技术，拥有前所未有的性能。此前，只有一些事通讯系统中才会融合这些技术，而随着LoRa的引入，嵌入式无线通信领域的局面发生了的改变。：支持LoRa调制技术的无线产品前向纠错编码技术是给待传输数据序列中增加了一些冗余信息，这样，数据传输进程中注入的错误码元在接收端就会被及时纠正。这一技术减少了以往创建“自修复”数据包来重发的需求，且在解决由多径衰落引发的突发性误码中表现良好。

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当用一种材料校正仪器后(常用试块为钢)又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低，有试验数据表明，热态材料每增加100℃，声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。耦合剂的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。实际使用中由于耦合剂使用过多，造成探头离工件时，仪器示值为耦合剂层厚度值。像ResearchIR一样，FLIRResearchStudio?允许您工作区，但是以一种全新的方式进行。我们可以选择一个布局，此布局可以只有一个窗格或多达4个不同的窗格，然后我们可以将实时码流从任何连接的摄像机和任何记录文件到这些不同的窗格中。我们甚至可以将多个相同类型的内容放在同一个窗格中，从而在窗格中添加了深度。当我们添加越来越多的图片、录像、实时码流和分析图标，有一个布局助手，帮助您选择在哪里放置一切。

徇或表征仪表稳定性如今尚未有定量值，化工企业通常用仪表零漂移来权衡仪表的稳定性。称重仪表稳定性的优劣直接干系到仪表的应用范畴，偶尔直接影响化工消费，稳定性不好形成的影响屡屡双仪表精度降落对化工消费的影响还要大。稳定性不好仪表维护量也大，是仪表工 不盼望呈现的事情。称重仪表的敏锐度偶尔也称“放大比”，也是仪表静特性贴切线上各点的斜率。增长放大倍数能够进步仪表敏锐度，单纯加大敏锐度并不变化仪表的基天性能，即称重仪表精度并没有进步，相反偶尔会呈现振荡征象，形成输出不稳定。