分别使用SpectrumView和传统的FFT(Math功能)测试该信号的频谱，通过对比可以看出，由于时域捕获时间较短，导致传统FFT频谱的分辨率非常低。相反，SpectrumView的频谱测试结果非常好，不仅具有高分辨率，而且底噪也非常低，可以清晰地观测信号本身及其谐波和杂散。与此同时，由于水平时基设置得较小，还可以观测到时域波形的细节信息。.谐波、杂散测试：时域参数及频谱测试鉴于SpectrumView的这些优势，结合示波器其它功能，还可以对射频脉冲信号进行诊断测试，包括时域包络参数及信号频谱等。晶体管的噪声晶体管的噪声主要有热噪声、散粒噪声、闪烁噪声。热噪声是由于载流子不规则的热运动通过BJT内3个区的体电阻及相应的引线电阻时而产生。其中rbb所产生的噪声是主要的。通常所说的BJT中的电流，只是一个平均值。实际上通过发射结注入到基区的载流子数目，在各个瞬时都不相同，因而发射极电流或集电极电流都有无规则的波动，会产生散粒噪声。由于半导体材料及工艺水平使得晶体管表面清洁不好而引起的噪声称为闪烁噪声。我们身处的时代崇尚“越大越好”,但这一至理名言也许并不适用于FIR滤波器长度。DSP支持的滤波器长度通常为1024点（tabs），有些高达4096点。为什么人们不想要或不需要长度更长的FIR滤波器？如果生厂商在DSP中引入8192点的FIR滤波器，人们会舍弃竞争产品而选择它吗？频率越低，时间越长首先，我们需要一份用于练习和实验的文件。可使用扬声器的测量数据，但稍微简单的文件更易于帮助我们发现重要的点。

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据预测，216年汽车电子标签(OBU)的市场需求量有近千万套。某国内ETC行业的领导企业，OBU年销量达数百万套。他们在一款OBU中使用某 MCU厂商的Cortex-M3内核芯片作为主控MCU，量产时采用为在线编程的方式，在PCB板上，对MCU进行批量烧录。就像：在烧片过程中，客户发现烧录良率非常低，经常莫名的烧录失败。每天几千套的产能要求，低良率生产，让生产部门在烧录环节束手无策。为提高产能效率及烧录的稳定性，客户请求技术支持。共模噪声是从交流输入线流入大地的干扰电流，差模噪声是在交流输入线之间流动的干扰电流。对任何电源输入线上的传导EMI噪声，都可以用共模和差模噪声来表示，并且可把这二种EMI噪声看作独立的EMI源来分别。在对电磁干扰噪声采取措施时，主要应考虑共模噪声，因为共模噪声在全频域特别在高频域占主要部分，而在低频域差模噪声占比例较大，所以应根据EMI噪声的这个特点来选择适当的EMI滤波器。电源用噪声滤波器按形状可分为一体化式和分立式。

当汽车始后，汽车车轮会减少我们所需的力气，那么我们初始的驱动就相当于冲击电流。以上例子表明了对于很多用电设备来讲，测试冲击电流是非常重要的指标。以往传统的测试方法中，在测量冲击电流时需要用到多个设备，如电源、数字转换器和分流器或电源、示波器和电流探头。当用户在生产线上执行高速测试时，这些方法不仅成本高，并且复杂又耗时。使用ITECH艾德克斯IT76系列高性能可编程交流电源可以简单有效地测量冲击电流。