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发布:2024/5/22 3:33:18 来源:yndl1381

 

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欢迎 2塑壳断路器##股份集团X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的,BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性,已足以保证待测样品分析测量的精度,被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素,在样品方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面:1.采样误差:非均质材料样品的代表性2.样品的:制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样:待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差:计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型:不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大,在多元素体系中,已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关,这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。“过去,研究人员主要使用间接测量,这种方法通过对极化进行测量,并将极化测量值作为温度和电压的函数推导得出电热效应,而不是实际的温度测量结果,”RomainFaye说。“然而,间接测量并不总是能够得出正确的解释。我们的团队一直在寻找更有效的直接温度测量方法。”直接测量温度变化 常用的方法是使用热电偶和红外热像仪。热电偶是测量与温度变化相关的电压变化的电子设备,而红外热像仪则测量与温度变化相关的红外辐射变化。

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作为专业从事智能配电系统自动化设备研发的生产商,注重与国内重大科技院校合作,凭借 的设备和科学的生产流程,发出高压负荷关、高压真空断路器、低压智能型断路器、双电源自动转换关、式框架断路器、CPS控制与保护关、仪器仪表、微机综合保护装置、电动机保护器、导轨电能表等系列产品,产品均通过 有关检测机构试验,并取得 认证。

 

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